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湖南艾克賽普測(cè)控科技有限公司

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Chroma 3650 SoC測(cè)試系統(tǒng)

參  考  價(jià):面議
具體成交價(jià)以合同協(xié)議為準(zhǔn)

產(chǎn)品型號(hào):

品       牌:Chroma/致茂

廠商性質(zhì):經(jīng)銷商

所  在  地:長(zhǎng)沙市

更新時(shí)間:2023-12-24 11:08:09瀏覽次數(shù):1102次

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產(chǎn)地類別 進(jìn)口 應(yīng)用領(lǐng)域 醫(yī)療衛(wèi)生,化工,生物產(chǎn)業(yè),電子,交通
Chroma 3650 SoC測(cè)試系統(tǒng)軟體測(cè)試環(huán)境CRISP(Chroma Integrated Software Plat form),是一個(gè)結(jié)合工程開(kāi)發(fā)與量產(chǎn)需求 的軟體平臺(tái)。主要包含四個(gè)部份 : 執(zhí)行控制模 組、資料分析模組、程式除錯(cuò)模組以及測(cè)試機(jī) 臺(tái)管理模組。

Chroma 3650 SoC測(cè)試系統(tǒng)軟體測(cè)試環(huán)境CRISP(Chroma Integrated Software Plat form),是一個(gè)結(jié)合工程開(kāi)發(fā)與量產(chǎn)需求 的軟體平臺(tái)。主要包含四個(gè)部份 : 執(zhí)行控制模 組、資料分析模組、程式除錯(cuò)模組以及測(cè)試機(jī) 臺(tái)管理模組。透過(guò)親切的圖形人機(jī)介面的設(shè) 計(jì),CRISP提供多樣化的開(kāi)發(fā)與除錯(cuò)工具,包含 :Shmoo plot、Waveform tool、Scope tool、Pin Margin、Pattern Editor與Plan Debugger 等軟體 模組,可滿足研發(fā)/測(cè)試工程師開(kāi)發(fā)程式時(shí)的需 求 ; 此外,Histogram tool 可用于重復(fù)任一測(cè)試 參數(shù),包含時(shí)序、電壓、電流等,以評(píng)估其測(cè)試 流程之穩(wěn)定度。

在量產(chǎn)工具的部份,透過(guò)特別為操作員所設(shè)計(jì) 的量產(chǎn)平臺(tái),生 產(chǎn)人員可輕易地控制每個(gè)測(cè)試階段。它提供產(chǎn)品 導(dǎo)向的圖形介面操作,用來(lái)控制 Chroma 3650、 晶圓針測(cè)機(jī)和送料機(jī)等裝置溝通。程式設(shè)計(jì)者 可先行在Production Setup Tool視窗之下設(shè)定OCI 的各項(xiàng)參數(shù),以符合生產(chǎn)環(huán)境的需求。而操 作員所需進(jìn)行的工作,只是選擇 程式設(shè)計(jì)者已規(guī)劃好的流 程,即可開(kāi)始量產(chǎn),大幅 降低生產(chǎn)線上的學(xué)習(xí)的時(shí) 間。

Chroma 3650 SoC測(cè)試系統(tǒng)的特色:

  • 50/100MHz測(cè)試工作頻率
  • 512個(gè) I/O 通道(I/O Channel)
  • 16M (32M Max.) Pattern 記憶體(Pattern Memory)
  • Per-Pin 彈性資源架構(gòu)
  • 32 DUTS 平行測(cè)試功能
  • ADC/DAC 測(cè)試功能
  • 硬體規(guī)則模式產(chǎn)生器(Algorithmic Pattern Generator)
  • BIST/DFT掃描鏈(Scan Chain)測(cè)試模組選項(xiàng)
  • 好學(xué)易用的 Windows XP 作業(yè)環(huán)境
  • 每片 VI45 類比單板可支援8~32通道
  • 每片 PVI100 類比單板可支援2~8通道
  • 彈性化的 MS C/C++ 程式語(yǔ)言
  • 即時(shí)pattern編輯器,含F(xiàn)ail pin/address顯示
  • 測(cè)試程式/測(cè)試pattern轉(zhuǎn)換軟體(J750, SC312)
  • 多樣化測(cè)試分析工具 : Shmoo plot,Waveform display, Wafer Map, Pin Margin,Scope tool, Histogram tool等等
  • 實(shí)惠的VLSI和消費(fèi)性混合信號(hào)晶片產(chǎn)品的測(cè)試方案

 

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